Назад
О курсе
Содержание курса
Раздел 1. Теоретические основы метода ИК-спектроскопии
Подраздел 1.1. Физические основы ИК-спектроскопии: взаимодействие вещества с ИК-излучением. Основной закон светопоглощения. Нормальные колебания, типы нормальных колебаний. Модели гармонического и ангармонического осциллятора. Природа обертонов и составных частот. Спектральные диапазоны метода.
Раздел 2. Приборы и аппаратное оформление ИК-спектроскопии
Подраздел 2.1. Устройство приборов и аппаратное оформление метода. Источники в ИК-спектроскопии. Дисперсионная и ИК-Фурье-спектроскопия. Устройство и принцип работы ИК-Фурье-спектрометров: схема современного ИК-Фурье-спектрометра. Интерферометр Майкельсона, детекторы и оптика.
Подраздел 2.2. Техники регистрации спектров: пропускание, однократное и многократное нарушенное полное волновое отражение (НПВО). Аксессуары, НПВО-кристаллы. Выбор техники анализа в зависимости от агрегатного состояния образца. Возможности и область применения ИК-спектроскопии.
Подраздел 2.3. Практика по разделу.
Подраздел 2.2. Техники регистрации спектров: пропускание, однократное и многократное нарушенное полное волновое отражение (НПВО). Аксессуары, НПВО-кристаллы. Выбор техники анализа в зависимости от агрегатного состояния образца. Возможности и область применения ИК-спектроскопии.
Подраздел 2.3. Практика по разделу.
Раздел 3: Качественный и количественный анализ в ИК-спектроскопии
3.1. Качественный анализ в ИК-спектроскопии среднего диапазона. Характеристики сигналов: положение, ширина, амплитуда. Закономерности проявления колебаний. Аналитические диапазоны ИК-спектра. Характеристичные сигналы различных классов органических соединений.
3.2. Количественный анализ в ИК-спектроскопии среднего диапазона. Закон Бугера-Ламберта-Бера. Программная обработка спектров для количественного анализа: базовые и дополнительные манипуляции, алгоритм проведения. Обработка ИК-спектров для количественного анализа и алгоритм его проведения.
3.3. Обзор стандартизированных методик и стандартов, основанных на использовании ИК спектроскопии.
3.4. Практика по разделу.
3.2. Количественный анализ в ИК-спектроскопии среднего диапазона. Закон Бугера-Ламберта-Бера. Программная обработка спектров для количественного анализа: базовые и дополнительные манипуляции, алгоритм проведения. Обработка ИК-спектров для количественного анализа и алгоритм его проведения.
3.3. Обзор стандартизированных методик и стандартов, основанных на использовании ИК спектроскопии.
3.4. Практика по разделу.
Раздел 4. Введение в инфракрасную спектроскопию ближнего диапазона (БИК)
Подраздел 4.1. Основы метода ближней ИК-спектроскопии, БИК-диапазон. Модели колебаний молекул, природа обертонов и составных частот. Качественный и количественный анализ в ИК-спектроскопии ближнего диапазона.
Подраздел 4.2. Аппаратное оформление БИК-спектрометра. Стратегии химического анализа. Возможности метода БИК-спектроскопии и её сравнение с другими колебательными методами.
Подраздел 4.3. Применение БИК-спектроскопии в промышленности: объекты, особенности, возможности.
Подраздел 4.2. Аппаратное оформление БИК-спектрометра. Стратегии химического анализа. Возможности метода БИК-спектроскопии и её сравнение с другими колебательными методами.
Подраздел 4.3. Применение БИК-спектроскопии в промышленности: объекты, особенности, возможности.
Раздел 5. Теоретические основы построения калибровочных моделей в ИК-спектроскопии
Подраздел 5.1. Дисперсионный анализ: основные принципы. Корреляционный анализ: задачи, виды взаимосвязей, условия применения, ограничения. Коэффициент ковариации и корреляции.
Подраздел 5.2. Регрессионный анализ: сущность, определение и задачи. Простая линейная регрессия и метод наименьших квадратов. Ошибка аппроксимации, оценка статистической значимости регрессионной модели.
Подраздел 5.2. Регрессионный анализ: сущность, определение и задачи. Простая линейная регрессия и метод наименьших квадратов. Ошибка аппроксимации, оценка статистической значимости регрессионной модели.
Раздел 6. Разработка калибровочных моделей. Хемометрика.
Подраздел 6.1. Введение в метод главных компонент (МГК, principal component analysis, PCA) для анализа спектральных данных.
Подраздел 6.2. Введение в метод проекции на латентные структуры (ПЛС, partial least square, PLS) для анализа спектральных данных.
Подраздел 6.3. Практические вопросы и особенности разработки калибровочной модели.
Подраздел 6.4. Практика по разделу.
Подраздел 6.2. Введение в метод проекции на латентные структуры (ПЛС, partial least square, PLS) для анализа спектральных данных.
Подраздел 6.3. Практические вопросы и особенности разработки калибровочной модели.
Подраздел 6.4. Практика по разделу.